金剛石鎳粉粉體電阻率測試儀（四探針?lè )ǎS(chǎng)家電話(huà)

四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀

廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等

按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā凡⒖济绹?nbsp;A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程，無(wú)需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購.

參數資料

1.方塊電阻范圍：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-6～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭； 選購3.直線(xiàn)形探頭； 選購4.測試平臺

11.測試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

售后及維修情況：

1、設備保修一年，終身服務(wù)，一年內非人為損壞的零部件免費更換，保修期內接到用戶(hù)邀請后， zui遲響應時(shí)間為2小時(shí)內，在與用戶(hù)確認故障后，我公司會(huì )在48小時(shí)內派工程師到達現場(chǎng)進(jìn)行免費服務(wù)，盡快查清故障所在位置和故障原因，并向用戶(hù)及時(shí)報告故障的原因和排除辦法 。
2、保修期內人為損壞的零部件按采購（加工）價(jià)格收費更換。
3、保修期外繼續為用戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)技術(shù)服務(wù)，在接到用戶(hù)維修邀請后3天內派工程師到達用戶(hù)現場(chǎng)進(jìn)行維修。并享有優(yōu)惠購買(mǎi)零配件的待遇?！?br />4、傳感器過(guò)載及整機電路超壓損壞不在保修范圍內。